怎樣檢測可控矽模組

可控矽模組用萬用表測量好壞。

用電阻 xl k 檔，正、反向測量A、 K 之間的電阻值，均接近無窮大用電阻 x 100 歐姆檔測量 G 、 K 之間的電阻，從十幾歐姆至百歐姆，功率越大歐姆值越小。正、反向電阻值相等或差異極小。說明可控矽的 G 、 K 並不像一般三極體的發身杉吉，有明顯的正、反向電阻的差異。