paut探傷是幾級探傷

paut探傷是一級探傷。在相控陣超聲檢測（PAUT）中，探頭用於控制感測器產生的光束的方向和形狀。與渦流技術不同的是，可以通過控制光束以不同角度掃描表面。定向掃描和優化控制允許增加覆蓋範圍，以檢測材料中的缺陷。

複雜幾何結構的材料可以通過將樑轉向角度進行檢查，如果手動操作，則可能很困難。