XPS光譜是什麼

XPS光譜

X射線光電子光譜學 (XPS)是一種量化的光譜學技術，用於測量材料中各種元素的經驗化學式，化學態和電子態。用x射線束照射材料的同時，測量動能和從材料表面1奈米到10奈米處逃逸的電子數，從而得到x射線光電子光譜。XPS測量在超高真空環境下進行。