中子成像技術原理

原理：

中子成像技術是一種簡單的三維成像技術，這種技術只需利用品質並不是很好的中子流就可以通過高密度的材料，進而達到成像的目的。

由於中子具有波粒二象性，所以可以用類似的標準光學技術來操作。將中子通過一個小孔以產生高度準直的束流，然後用合適的晶體來折射--就像光通過稜鏡時不同波長的光波被分開--得到單一能量(或者說單一的波長)的中子束。

將這些中子波束打到第二光柵上，這個光柵上的縫隙更為細密一些，通過這個光柵的中子束會產生干涉條紋。在兩個光柵之間放置要測量的物體就會改變中子束所走過的路徑。

物體的折射效應會改變通過第二個光柵之後形成的干涉條紋。但是中子探測器的分辨率不足以直接將干涉條紋成像，也不能測到條紋的微小變化。